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    沖擊試樣缺口投影儀

    產(chǎn)品簡介

    CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,

    產(chǎn)品型號:CST-50
    更新時間:2025-02-17
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    訪問量:1006
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    品牌其他品牌價格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池

    CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。

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